與傳統(tǒng)Micro 接口相比，Type C接口有不區(qū)分正反面、可以通過3A的電流，實現(xiàn)快速充電等優(yōu)勢，所以Type C慢慢的成為眾多手機的標配。但Type C也有很多的不足，比如Type C連接器公頭和母座多次插拔導(dǎo)致接觸電阻的上升；Type C連接器Pin與Pin之間的間距較小，頭發(fā)、金屬屑、咖啡漬、汗?jié)n等雜物進入Type C連接器狹小空間里，導(dǎo)致充電端子處的Vbus 和GND 形成微短路；尤其是Type C連接器的結(jié)構(gòu)更復(fù)雜，加工精度的問題也可導(dǎo)致接觸電阻的不穩(wěn)定。隨著充電電流的不斷提高，Type C 充電端口出現(xiàn)發(fā)熱燒毀的現(xiàn)象呈現(xiàn)上升趨勢，所以Type C充電端口的安全保護也成為眾多手機廠家越來越關(guān)注的焦點。
添鑫是可提供一種在Type C Vbus上串聯(lián)PTC的數(shù)據(jù)線熱保護方案，此方案為在Type C端口的PCB上回流焊接貼片PTC(如下圖所示），此方案有生產(chǎn)工藝簡單、可靠性高等特點。
此方案工作原理為如果端口處異物的存在，在Type C端口就形成了一個低阻回路，手機充電器的電流可以經(jīng)由Type C端口的低阻回路回到充電器電路中，也就是電流不會再流到手機內(nèi)部（如下圖所示）。此時端口溫度急劇上升，熱量通過熱傳導(dǎo)的方式傳遞到PTC，使PTC溫度升高，當(dāng)PTC溫度達到動作溫度時，PTC動作，切斷充電回路，使充電端口溫度下降，此方案可以有效的防止由于溫度升高引起手機充電端口的燒毀。
模擬短路發(fā)熱測試下端口溫度變化曲線
從上圖中可看到充電端口表面的溫度控制在120℃以內(nèi)，外殼表面溫度控制在65℃以內(nèi)。
